Kwaliteit en borging / Laboratorium scope
| Analyse | Bepaling van chemische elementen + matrix | Type toestel, fabrikant |
| Spectrometrische analyse | B, Mn, V, P, Al, Zr, Si, Nb, Cu, Co, Cr, Sb, Ni, Ta, Sn, Pb, Mo, W, Ti, Ca en As in staal | Vonk-Emissie-Spectrometer; Spectro M8, Jr-CCD |
| Koolstof, zwavel analyse | C, S in staal | koolstof/zwavel analyser; Leco CS-230, Leco CS-444 |
| Zuurstof, stikstof analyse | N, O in staal | zuurstof/stikstof analyser; Leco TC-436, Leco TC-500 |
| XRF analyse | Mg, Al, Si, Ca, P, Cr, Mn, Fe, V, Co en W in slak | XRF; Thermo Optim’X WD-XRF |
| XRF analyse | Mn, V, P, Al, Zr, Si, Nb, Cu, Co, Cr, Sb, Ni, Ta, Sn, Pb, Mo, W, Ti, Ca en As in staal | XRF; Thermo Optim’X WD-XRF |
| XRF analyse | Samenstellingsbepaling grond- en reststoffen | XRF; Thermo Optim’X WD-XRF |
| Staalzuiverheidsanalyse Volgens ASTM E45, ISO 4967, DIN 50602, NF-A 04 106 | Niet metallische insluitsels in staal | Optische microscopie; Leica DM2500M |
| Scanning Electronen Microscopie met semikwantitatieve gehalte bepaling | Alle matrices; droog en elektrisch geleidend | SEM + EDX; JEOL JSM 6490LV + Oxford Instruments EDX |
| Ultrasoon immersie onderzoek | Niet metallische insluitsels in staal volgens SEP 1927 | Ultrasoon immersie systeem; DynaScan Van Amsterdam Technologies |
